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產品特色
X-Sight 3D DIC 光學量測系統是一套功能多元、性能強大且操作方便的量測解決方案。X-Sight 3D DIC可靈活應用於複雜且多樣化的三維應變分析，適合量測平面外變形（Out-of-Plane Deformation）與動態量測等全域性應用場景。其高精度與高可靠性可確保各種應用皆能獲得穩健且可信賴的量測數據，其中也包括高速攝影（High-Speed Imaging）分析。
憑藉完整的後處理分析功能（Post-Processing Analytics），本系統能有效應用於驗證有限元素分析（FEM, Finite Element Method）結果、驗證 CAD 模型設計執行結構變形分析（Structural Deformation Analysis）及材料與產品研發測試。
X-Sight 3D DIC 系統可搭配多種不同規格的設備與光學元件，包括各類工業相機、不同焦距鏡頭、專業照明設備、及各式光學配件，因此能根據不同的測試需求與量測環境進行彈性配置，打造最適合客戶的三維數位影像相關（3D DIC, Digital Image Correlation）量測系統。
憑藉完整的後處理分析功能（Post-Processing Analytics），本系統能有效應用於驗證有限元素分析（FEM, Finite Element Method）結果、驗證 CAD 模型設計執行結構變形分析（Structural Deformation Analysis）及材料與產品研發測試。
X-Sight 3D DIC 系統可搭配多種不同規格的設備與光學元件，包括各類工業相機、不同焦距鏡頭、專業照明設備、及各式光學配件，因此能根據不同的測試需求與量測環境進行彈性配置，打造最適合客戶的三維數位影像相關（3D DIC, Digital Image Correlation）量測系統。
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