heliInspect™H8 3D 面型白光干涉儀量測

擴展的測量能力

◆ 具有可靠的亞微米分辨率的面型測量
◆ 基於最新的3D sensor heliSens™S4H
◆ 無與倫比的測量速度和分辨率
◆ 高動態範圍可實現強大的測量
◆ 從2倍放大到100倍

輕鬆集成到生產線

◆ 標準GenICam接口
◆ 標準例程已在相機上實現
◆ 集成Z掃描儀，行程40 mm，兩種分辨率1/20 nm
◆ 多種安裝配置

軟體

◆ 與支持GenICam的標準應用程序兼容
◆ heliSDK™，有Halcon，C ++，LabVIEW，Python的示例

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